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OTSUKA大塚电子
测量仪器
SM-100SOTSUKA/日本大塚 智能薄膜厚度计 便携式

产品型号:SM-100S
更新时间:2026-10-20
厂商性质:经销商
访问量:12
服务热线86-755-28118937
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OTSUKA大塚电子 智能薄膜厚度计
光谱干涉与光谱反射法作为核心检测原理,全程非接触,不会划伤样品表面,尤其适合软膜、超薄功能膜。很多柔性光学膜生产企业,需要连续监测薄膜厚度均匀性,大塚薄膜测厚设备可以快速扫描多点厚度,输出厚度分布数据,及时调整涂布、镀膜工艺,控制膜厚公差。
现货供应大塚全系列薄膜测厚设备,原厂技术支持,根据样品材质、膜层结构、厚度范围推荐合适机型,配套样品测试评估,协助企业搭建膜厚检测体系。

(1)小型光谱仪
(2)紧凑型白光源
(3)设备内置
计算机。之前分析是在电脑上进行的,但......
分析
显示
运营
通过触摸面板启用!
(4) 电池操作
(5)参考镜
(6) 可更换探头
优点
你可以带它去以前无法到达的地方!
推理
光谱仪微型化、电池丑闻等
第一场:商务旅行目的地

第二场:生产线

第三场:无法移动的东西

优点
不需要专业知识或操作培训!
理由(1)无需组装,开启即可立即使用

理由(2)只需将探针放在样品上即可测量

理由(3)通过触摸面板直观操作

优点
0.1微米增量的精确测量
推理
它采用光谱干涉法

原理测量基板上的膜层厚度
来自上方
的入射光会反射到薄膜表面
·穿过薄膜的光线会反射到基板或薄膜界面
测量由
光程差引起的相位差引起的光学干涉现象
根据获得的反射光谱和折射率计算胶片厚度
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