高速相位差测量装置 扭转度测量 RE-200

产品概述

RE-200 是大塚电子推出的高速相位差测量装置 扭转度测量，采用透过式偏振光学架构，搭载光子晶体偏振元件与 CCD 相机，摒弃传统偏振片旋转机构，依靠单次快门采集偏振光信号，快速完成样品光学参数检测。设备采用一体化紧凑台式结构，兼顾实验室研发评估与产线在线检测场景，以非接触式检测方式获取样品相位差、主轴方位角等多项光学指标。

型号说明

型号：RE-200；设备类型：高速相位差测量装置，国内由大塚电子（苏州）提供技术支持与售后保障。

整机用材与结构设计

整机机箱采用防静电低析出材质，降低粉尘与静电对样品的影响。光学腔体内部选用高稳定性光学镀膜组件，减少杂光干扰；光子晶体偏振元件、CCD 成像模块集成在小型光学模组内，无旋转运动部件，降低机械磨损。载台结构稳固，可稳定放置薄膜、玻璃等片状样品，整机体积小巧，便于在实验台或产线工位布置。

核心参数表

产品优势特点

设备无机械旋转结构，减少运动部件带来的波动，测量重复性表现良好。单次快门即可完成全部偏振信息采集，0.1 秒以内完成检测，满足批量样品快速筛查。可测量 0nm 起的低残留相位差，适配低双折射样品评估。支持多波长选择，搭配可选自动旋转倾斜治具，可拓展 Rth 与全芳位角度测量。非接触光学检测，不会损伤软质光学膜片，样品可重复使用。软件操作简洁，参数设置项少，自动完成数据运算，输出测量报表，方便数据归档与对比分析。设备还可搭配拉伸试验机，同步评估薄膜光弹性特性，满足材料研发的多样化测试需求。

产品用途

适用于相位差膜、偏光膜、视角改善膜等各类功能性光学薄膜，也可用于透明树脂、光学玻璃等各向异性材料，检测材料双折射、应力畸变等光学指标，广泛用于光学膜材研发、来料检验、产线在线品质检测。

使用说明

设备通电后，完成光路基准校准；将待测样品平整放置于载台测量区域，在软件中选定测量波长与检测项目。启动测量，CCD 相机单次采集偏振图像，系统自动解析相位差、主轴方位角等参数，数据实时显示并保存导出。测量完成后取出样品，定期清洁光学窗口与样品载台，按周期执行设备校准，保障测量稳定。