薄膜折射率测量装置 相位差 RETS-100
这是一种能够检测各种薄膜的折射率测量装置，适用于OLED用偏光板、层叠式相位差薄膜、带有IPS液晶相位差薄膜的偏光板等各类薄膜。
可实现超高折射率（高达60000纳米）条件下的快速、高精度测量。
无需拆解薄膜，即可以“无损"的方式对其折射率进行检测。

大塚电子 RETS-100nx 相位差测量装置

一、产品概述

RETS-100nx 是大塚电子开发的光学相位差测量装置，专门用于光学薄膜、液晶显示器件等样品双折射光学参数的定量检测。设备采用台式一体化结构，融合高精度偏振光学系统、宽光谱光源与自研多通道光谱采集技术，一次测量即可同步获取相位差、轴角、盒厚等多组光学参数，广泛服务于光学膜材的研发、来料检验与显示制程的品质评估。设备为非接触式光学测量，不损伤样品，操作简便，测量精度高、重复性好，适配实验室与量产检测的多种场景。

二、型号说明

• 型号：RETS-100nx

• 设备类型：台式相位差 / 双折射光学参数测量装置

• 测量对象：光学相位差薄膜、液晶显示器件、多层复合光学膜等

• 结构形式：偏振光学系统 + 宽光谱光源 + 自研多通道光谱检测器一体化

三、整机用材与结构设计

1. 机箱外壳：采用低析出、防静电表面材质，有效抑制环境粉尘与静电吸附，保护精密样品，同时满足实验室洁净环境的使用要求。整机尺寸 480 (W)×520 (D)×765 (H) mm，重量约 60kg，体积紧凑，占用空间小，便于在实验台或产线旁灵活部署。

2. 光学系统：核心搭载高精度格兰汤姆森偏振棱镜，光学组件表面镀高稳定性光学膜，减少内部杂光与偏振串扰，保障测量光路纯净；采用光纤传导光路设计，光路稳定，长期使用光衰小，维护便利。

3. 光源与检测：配备 100W 卤素光源，光谱覆盖宽，光强稳定；搭配大塚自研多通道光谱检测器，可同时采集数百组不同波长的光谱数据，为多层膜解析提供充足数据基础。

4. 机械与电控：样品载台结构稳定，配合电动 XY 载台（选配）可实现多点自动扫描；工业级电控与通讯模块，支持数据导出与报表生成，操作界面友好。

四、核心参数表

五、产品核心优势与特点

1. 多波长光谱采集，测量精度高：依托自研多通道光谱检测器，一次性采集数百组波长数据，相比单波长测量可有效抑制膜厚干涉带来的测量偏差，相位差重复性可达 3σ≦0.08nm 级别，数据稳定可靠。

2. 非接触、非破坏性检测：全程光学测量，不接触、不损伤样品，适合软质、易损光学膜材与液晶器件检测，样品可重复利用，降低检测损耗。

3. 多层复合膜同步解析：具备多层膜解析能力，多层复合光学膜无需剥离即可分别解析每一层薄膜的相位差、慢轴、轴角等参数，显著提升检测效率与数据完整度。

4. 轴角自动补偿，重现性好：内置轴角补偿功能，样品在载台放置存在偏移时仍可维持良好的测量重现性，降低对操作手法与样品摆放精度的依赖，更适合批量连续检测。

5. 宽测量范围，兼顾多种指标：相位差覆盖 0～60000nm，可同时输出相位差、轴角、盒厚、Rth、吸收轴、偏光度等多种光学参数，满足研发与产线多样化检测需求。

6. 可扩展 Mapping 扫描：选配电动 XY 载台、倾斜旋转台，可实现多点 Mapping 扫描与三维折射率解析，支持整片样品的均匀性评估，适配镐端显示与光学材料研发。

7. 操作便捷，数据管理玩善：软件自动完成光谱采集、算法解析与报表输出，支持检测结果保存与导出，便于制程追溯与数据管理。

六、产品用途与应用场景

RETS-100nx 主要用于光学膜与显示器件领域的光学参数检测，具体应用如下：

1. OLED 偏光片检测：测试偏光片相位差色散、吸收轴、偏光度等关键指标，评估光学性能与一致性。

2. 多层相位差膜研发与检测：解析多层膜中每一层的相位差、慢轴、Rth 等参数，用于光学膜材配方优化与品质管控。

3. 液晶面板 Cell 检测：测量液晶盒盒厚（Cell Gap）、配向角等参数，评估面板工艺稳定性，用于来料检验与制程监控。

4. 光学材料研发验证：面向光学膜材料研究机构，提供高精度双折射参数测量，支撑新型光学材料的开发与验证。

5. 来料检验与品质管理：对光学膜片、液晶显示器件进行批量快速检测，辅助光学材料采购与产线品质管控。

七、基础使用说明

1. 开机与校准：接通电源启动设备，依据软件引导完成光路校准与波长校准，确保测量基准准确。

2. 样品放置：将待测样品平整放置于载台测量区域，尽量对准光轴；若样品位置存在偏移，可利用内置轴角补偿功能消除误差。

3. 参数设定：在软件中设置测量程序，选择测量波长、测量项目（相位差、轴角、盒厚等）及扫描点位（如启用 Mapping）。

4. 自动测量：偏振光学系统自动旋转并采集各波长光谱，软件通过算法解析并输出相位差、轴角、盒厚等数据。

5. 数据输出与保存：测量结果自动生成报表，可查看、导出并上传至数据管理系统，用于制程追溯与品质分析。

6. 日常维护：定期清洁光学窗口与样品载台，监控光源状态，按周期进行设备校准，保障长期测量精度；大塚电子提供维护与校准服务支持。

薄膜折射率测量装置 相位差 RETS-100

薄膜折射率测量装置 相位差 RETS-100